儀器名稱：掃描電子顯微鏡
儀器廠家：日本電子
儀器型號：JSM-IT500
主要技術指標：
分辨率：高真空模式3.0 nm (30 kV) 15.0 nm (1.0 kV)；
低真空模式：4.0 nm (30 kV BED)
圖像倍率：×5～×300,000（以128 mm × 96 mm 作爲顯示尺寸規定放大倍率）
顯示倍率：×14～×839,724顯示器上的圖像倍率（以358 mm × 269 mm 作爲顯示尺寸規定放大倍率）
電子槍：鎢燈絲，電子槍自動合軸
加速電壓：0.3kV～30kV
低真空壓力設定範圍：10~650Pa
物鏡光闌：3檔，帶有X Y微調功能
自動功能：燈絲調整、電子槍合軸調整，聚焦、像散、襯度/亮度調整
圖像模式：二次電子像、REF像、成份像、形貌像等
獲取圖像的像素數：640×480，1280×960，2560×1920，5120×3840
測長功能：兩點間距離、平行綫間距離、角度、直徑等
配件：能譜（EDS）探頭、電子背散射衍射（EBSD）探頭
存放位置：澳門科技大學C棟C601
預約測試：金老師，聯繫方式：ljin@must.edu.mo。 預約測試前，請做好樣品前處理工作。
